Авторы: Брандон Д., Каплан У. Издательство: " Техносфера " Переплет: твердый, год издания: 2006, страниц: 377 ISBN: 5-94836-018-0, формат :;70x100/16;(170x240 мм.)
Ориентировочно, курьером по Москве, этот товар будет доставлен 3 июля
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.